|
Überblick zur Partikelmesstechnik auf Oberflächen mit konventionellen Partikelzählern
Die Reinheit von Produkten definiert sich nicht durch die Sauberkeit der Luft, sondern vielmehr über die Reinheit der Produktoberflächen. Die Partikelmessung auf Oberflächen kann in Verbindung mit konventionellen optischen Partikelzählern für Luft nur durch Ablösung der Teilchen von der Oberfläche realisiert werden.
CCI modifiziert diverse am Markt bewährte Partikelzähler (u. a. Met One 2400, Klotz Abakus, PMS, Hiac Royco) und erweitert deren Einsatzspektrum um das zusätzliche Feature Partikelzählung auf Oberflächen. Auch nach einer entsprechenden Modifizierung bleibt der ursprüngliche Gerätestandard erhalten und damit uneingeschränkt nutzbar. Der Partikelzähler eignet sich fortan sowohl für die Messung von luftgetragenen Partikeln als auch von Oberflächenpartikeln!
Ein breites Sortiment an Probenahmesonden steht zur Verfügung: Die Sondentypen VFP30, VFP50, FP90 und FP sind Probenahmesonden, die in Durchmessern zwischen 30 bis 100 mm erhältlich sind. Während eines Meßzyklus (5 bis 10 Sekunden) innerhalb einer definierten Fläche kann die Sonde auf ebenen, glatten Oberflächen bewegt werden oder auch nur an einer Stelle fixiert sein.
Um die Ablöserate der Partikel von der Oberfläche zu erhöhen bzw. auch Messungen auf konkaven, konvexen oder rauhen Oberflächen zu ermöglichen, wurde die VSP-Sonde entwickelt. Diese Sonde wird beim Messen auf die Oberfläche angepresst. Gefilterte Druckluft strömt auf die Oberfläche und löst Partikel ab. Da diese Sonde hermetisch zur Oberfläche abschließt, kann hiermit auch außerhalb von Reinraumbedingungen gemessen werden.
|
|
Produkte
Partikelmesstechnik
